● ZML310顯微鏡法粒度粒形儀產(chǎn)品介紹：

ZML-310透皮乳膏粒度晶型分析儀是采用顯微鏡圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的顆粒分析系統(tǒng)。設(shè)備由顯微鏡、高分辨率數(shù)字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。其工作原理是通過專用高分辨率數(shù)字攝像機和光學(xué)顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來并傳輸?shù)接嬎銠C中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析，并通過顯示器和打印機輸出分析結(jié)果。該儀器具有直觀、可視、準確、測試范圍寬、操作簡單、測量參數(shù)全面等特點。能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的顯微粒度分析儀器。

● 結(jié)構(gòu)原理：

ZML-310型透皮乳膏粒度晶型分析儀是采用顯微鏡圖像法測試粒徑大小、顆粒形狀及顆粒顏色的顆粒分析系統(tǒng)。設(shè)備由顯微鏡、高分辨率數(shù)字攝像機、分析軟件、計算機等部分組成。其工作原理是通過專用高分辨率數(shù)字攝像機和光學(xué)顯微鏡，將顆粒圖像拍攝下來并傳輸?shù)接嬎銠C中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析，并通過顯示器和打印機輸出分析結(jié)果。該儀器具有直觀、可視、準確、測試范圍寬、操作簡單、測量參數(shù)全面等特點。能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的顯微粒度分析儀器。

● 應(yīng)用領(lǐng)域：

ZML310顯微鏡法粒度粒形儀廣泛適用于API原料藥、半固體軟膏、液體制劑、藥物晶型分析、生物醫(yī)藥、食品等領(lǐng)域的各種顆粒的粒度大小、形狀特征觀察和測量。

● 技術(shù)參數(shù)：

1.粒徑范圍：200nm-3000μm。

2.準確性：＜3%。

3.粒徑參數(shù)：等效面積圖、等效周長圓、等效短徑、等效長徑等。

4.粒度統(tǒng)計：體積、面積、顆粒。

5.形狀參數(shù)：圖度、球形度、凸起度、實積度、延伸度、長徑比、長寬比、橢圓度。

6.攝像機：1800萬像素。

7.軟件自動進行統(tǒng)計樣品顆粒，并對顆粒進行做粒度分布。

8.可以得到常規(guī)的平均粒徑，D10，D50，D90等參數(shù)。

9.配置奧林巴斯顯微鏡，成像更加清晰。